特性評価・環境試験・故障解析・効率化における課題を解決
半導体評価・解析ソリューションについて
DRAM、SRAM、ASIC、システムLSI、アナログロジックなどの半導体デバイスに関する評価・解析サービス、作業効率化のための各種ツールをを提供し、試作品の動作確認から、量産品の品質向上、歩留まり改善を支援します。
サービス・製品機能
対応工程
対応分野
効率化ツール例
- ＠P-MAP（物理アドレス可視化ツール）
テスタアウトプットのDRAM不良セルを、物理アドレスの絵にしてPC上に表示します。
手作業によるミスを軽減し、不良解析をスピーディーに行えます。その他にも手廃りモード操作、特定プログラム自動生成等の機能も搭載しています。 - Waveトレーサ
テスタプログラムパターンを波形化して、信号タイミングチェック等を効率化いたします。
- オシロスコープアシストツール
PCからオシロスコープの動作をを制御し、波形測定業務を効率化いたします。
・測定項目の自動設定、結果判定
・報告書背泳画像ファイル作成
・結果内容エクセル出力 等