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プログラム開発(RingOSC-TEGストレス評価)
#半導体
TEGのストレス試験と特性評価
概要
測定概要を基にプログラム仕様作成~プログラム作成
テスタにて入力波形観測確認後、データ採取
結果をSim.値と比較してシリコンの状態を判断
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