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プログラム開発(特性評価プログラム)
#半導体
デバイスの設計内容妥当性確認
概要
デバイスの動作仕様、測定装置の仕様をもとに測定プログラム、パターン作成
測定装置でデバックからデータ採取
測定結果から設計仕様との相違確認
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